Especificaciones técnicas
- Emisor de Tungsteno.
- Voltage de aceleración: 0,2 a 30 kV
- Resolución: 3 nm en alto vacío con SE; 4,5 nm con BSD.
- Magnificación: 7x a 1.000.000x
- Presión variable entre 10 y 400 Pa de nitrógeno o aire.
- Detectores SE (electrones secundarios en alto vacío), VPSE (electrones secundarios en presión variable) y BSD (electrones retrodispersos en presión variable).
- Porta muestras 9x.
- Campo de visualización: 6 mm de diámetro a la distancia de trabajo analítica, máximo de 20 mm de diámetro a la distancia de trabajo más larga.
- Platina eucéntrica motorizada en 5 ejes, panel de control con botones giratorios.
- Sistema de enfriamiento Peltier.
- Cámara IR para visualización.
- Sistema operativo Win7, Monitor TFT de 19″.
- Sistema de microanálisis de Rayos X marca Oxford, Software AZtec Energy con detector X- act de 10 mm2, resolución 129 eV, incluye Software GSR.
Aplicaciones
- Análisis morfológico de muestras procesadas de materiales.
- Análisis morfológico de muestras biológicas procesadas.
- Análisis morfológico de muestras biológicas frescas no intervenidas, utilizando platina Peltier.
- Análisis morfológico de muestras naturales de materiales no intervenidas.
- Análisis espectroscópico (atómico) por EDS de muestras biológicas.
- Análisis espectroscópico (atómico) por EDS de muestras materiales.
- Análisis y caracterización de microestructuras en materiales.
- Análisis de muestras geológicas por SEM y EDS.
- Análisis forenses y de criminalística usando SEM y EDS.
Imágenes
