Especificaciones Técnicas
- Columna FIB.
- Columna Gemini (SEM).
- Voltage aceleración: 0,1 a 30 kV.
- Resolución. SEM: 1 nm a 15 kV; 1,9 nm a 1kV. FIB: 7 nm a 30 kV.
- Magnificación: 12 x a 1.000.000 x.
- Platina eucéntrica motorizada en 6 ejes, Controlador Joystick dual.
- Detectores Inlens Duo, SE (electrones secundarios) y BSE (electrones retrodispersos) en columna.
- Detectores en cámara SE (electrones secundarios) y STEM (electrones transmitidos).
- Cámara compacta con 10 puertos .
- 2 cámaras CCD-IR.
- Portamuestras 9x.
- Operación en 2 canales simultáneos con display de imágenes.
- Sistema operativo Windows con software SmartSEM y dos monitores TFT de 19″.
- Sistema de inyección de gases GIS para 01 gas precursor (Pt o C).
Aplicaciones
- Análisis morfológico de muestras (procesadas) de materiales (SEM).
- Análisis morfológico de muestras (procesadas) biológicas (SEM).
- Análisis ultraestructural de cortes ultrafinos (STEM)
- Análisis ultraestructural (STEM)/inmunofluorescencia de cortes ultrafinos mediante microscopía correlativa.
- Análisis morfológico (SEM) /inmunofluorescencia de muestras de volumen mediante microscopía correlativa.
- Análisis ultraestructural de muestra de volumen (biólogicas) mediante FIB/SE (obtención automática de miles de imágenes seriadas) y reconstrucción tridimensional.
- Análisis ultraestructural de muestra de volumen (materiales) mediante FIB/SE (obtención automática de miles de imágenes seriadas) y reconstrucción tridimensional.
Imágenes
