Especificaciones Técnicas
- Emisor de Tungsteno.
- Voltaje de aceleración: 0,3 a 30 kV
- Resolución: 5 nm
- Magnificación: 100x a 500.000x
- Detector SE (electrones secundarios)
- Sistema de Microanálisis de Rayos X marca Oxford, Software INCA 2000 con detector X- act de 10 mm2, resolución 139 eV.
Aplicaciones
- Análisis morfológico de muestras procesadas de materiales.
- Análisis morfológico de muestras biológicas procesadas.
- Análisis espectroscópico (atómico) por EDS de muestras biológicas.
- Análisis espectroscópico (atómico) por EDS de muestras materiales.
- Análisis y caracterización de microestructuras en materiales.
- Análisis de muestras geológicas por SEM y EDS.
- Análisis forenses y de criminalística usando SEM y EDS.
Imágenes
